テストソリューション本部

テストソリューション本部では、半導体の製造工程において、性能等を試験し良品と不良品の選別に用いられるウエハーテスターを自社開発しており、NAND型フラッシュメモリーの量産ラインにおけるテストソリューションを主軸に、CMOSイメージセンサーやMEMS向けにも適用分野を広げています。

当社製品は、お客様のさまざまなテスト要求に応じて最適なテスト回路を構成することにより、テストの処理効率やテスト品質の向上、消費電力/CO2排出量の削減、設置面積の削減、装置コストの低減等を実現し、お客様のテストコストの削減に大きく貢献しています。

イノテック(ハードウェア設計、ソフトウェア開発、サポート体制)

→ 電子機器メーカー(ウエハーテスターの受託製造)

→ 最終製品(NAND型フラッシュメモリー向けテスター、CMOSイメージセンサー向けテスター、MEMS向けハンドラー)

技術革新を通じた環境負荷削減:最大12ヘッドの量産化テストシステム

当社は、NAND型フラッシュメモリーテスター市場で18年の経験があり、小型化、低消費電力化、テスト効率化に継続して取り組んできました。そこから量産型テスター分野に軸足を移し、その集大成として超小型モデルを開発。テスト装置が最大12台収容できるプローバーシステムへの搭載を可能にし、お客様に供給しています。

テスト装置を集約して搭載することにより効率的な稼働運用ができ、システムがよりコンパクト、より省電力になり、量産工場におけるクリーンルームの運営効率がより高まります。

その結果、お客様にとって大幅なコスト削減につながり、環境負荷の削減にも寄与しています。

最新鋭ビットマップテストシステム

テスト工程は、半導体の量産製造工程において下流に位置付けられます。テストの結果を速やかに上流工程にフィードバックし、ただちにプロセス装置の調整など改善施策を講じる必要があります。

当社が開発した最新鋭のビットマップテストシステムは、高速にデータを収集し、その収集した膨大なデータをエッジ処理としてテスター側で解析した上で高速ネットワークを通じて工場側ホストに転送することで、より有効な改善施策をスピーディに各工程で実施することが可能になります。

その結果、歩留まり率を著しく向上させ、廃棄物の削減にも寄与しています。

CMOSイメージセンサーのテスト技術を横展開

CMOSイメージセンサーテストシステムは、画像処理を行うハードウェアと、そのソフトウェアライブラリで構成されています。当社製品は、グループ会社のレグラスが開発した高速画像処理ソフトウェアライブラリを採用しており、テスト時間の大幅な短縮化が図れます。

この技術は幅広い分野での応用が可能で、例えばカメラモジュールのテストや、レンズそのものの検査にも使えます。

当社では、こうした技術の横展開を積極的に進めており、応用分野の一つとしては、オンチップカラーフィルターの検査工程に対応したテスターなどがあります。このテスト装置はOCF製造工程のデジタル化の推進等に貢献しています。

ファブレスモデルを採用

イノテックでは、自社で設計開発したハードウェアを国内有数のEMS企業で製造するファブレスモデルを採用しています。
当社は設計段階で高度なシミュレーションを用いて品質を徹底的に作り込みます。
そして製造段階では、使用する半導体や各種部品の調達、高い製造品質など、大手EMS企業が持つ強みを活かしながら、お客様のニーズに最適化された製品を迅速に製造し提供できる体制を整えています。