Gemini

Gemini

Geminiは3D-IC技術開発のパラメーター試験、信頼性試験、ウエハー生産および生産品質のモニタリング機能や3D-ICの貫通電極のKGD試験ができるハイレベルな統合ソリューションです。高精度パラメトリック試験や信頼性試験だけでなくデジタル・アナログファンクション試験も行うことができる多チャンネルテストシステムです。

アドバンスド3D-ICシステム

●先端高密度狭ピッチパッケージの各種クオリフィケーション
(Open, Short, Leakage, Resistance etc.)
●3D-ICパッケージにエンべデッドされるコンポーネントのキャラクター・ライゼーション
●先端のハイパワーパッケージ向け絶縁破壊試験向けバーンインおよび信頼性テスト

アドバンスド Hybridテスター

●プロセスコントロールを行うための超高精度パラメトリックおよび信頼性テスト
●パラメトリックおよび信頼性テストを超えた3D-ICのファンクションテスト

お問い合わせ

テストソリューション本部

TEL:045-474-8824