STAr Technologies社製プローブカード「Aries」シリーズはファンクションテスト向けに対応したプローブ・ソリューションをご提供いたします。
幅広い製品群を取り扱っておりますので、仕様をお問い合わせください。
垂直型プローブカード
| Zenith | Specification |
|---|---|
| Tester | Customized Tester |
| Configuration | 5472pins |
| Test Frequency | 50MHz |
| Temperature | -40~165degC |
| Pitch(min) | 50um-sq. |
| Tip Diameter | 15um |
| Alignment(XY) | ±10um |
| Planarity(Z) |
垂直型プローブカード
| Sigma | Specification |
|---|---|
| Tester | Customized Tester |
| Configuration | 1024 channels |
| Test Frequency | 800MHz |
| Probe Area | 100mm x 100mm |
| Pad Size(min) | 38um-sq. |
| Tip Diameter | 15um |
| Alignment(XY) | ±10um |
| Planarity(Z) |
| Delta | Specification |
|---|---|
| Tester | Advantest T6577 |
| Configuration | 928 pins / 8DUTs |
| Test Frequency | 500MHz / 667 Mbps |
| Probe Area | 100mm x 100mm |
| Pad Size(min) | 30um-sq. |
| Tip Diameter | 10um |
| Alignment(XY) | ±10um |
| Planarity(Z) |
| Gamma | Specification |
|---|---|
| Tester | Verigy 93K |
| Configuration | 7084pins (opt.12000pins) |
| Test Frequency | 1.5GHz (opt. 4.0GHz) |
| Temperature | up to 150degC |
| Pitch(min) | 90um |
| Tip Diameter | 65um~125um |
| Alignment(XY) | ±20um |
| Planarity(Z) |
幅広い製品群を取り扱っておりますので、仕様をお問い合わせください。
テストソリューション本部
TEL：045-474-8824