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ファンクションテスト用プローブカード(Aries)
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STAr Technologies社製プローブカード「Aries」シリーズは、SoCをはじめマイコン、ミックスド・シグナル、メモリー、各種センサーなど多種多様なデバイスへ最適なプローブ・ソリューションをご提供いたします。カンチレバー型、垂直型、ポゴピン型、スプリング型などのプローブカードをご用意しております。

【Cantilever】

◆カンチレバー型プローブカード
幅広い製品群を取り扱っておりますので、仕様をお問い合わせください。

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Zenith
垂直型プローブカード
Tester
:
Customized Tester
Configuration
:
5472pins
Test Frequency
:
50MHz
Temperature
:
-40~165degC
Pitch(min)
:
50um-sq.
Tip Diameter
:
15um
Alignment(XY)
:
±10um
Planarity(Z)
:
<20um
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Sigma
◆CIS/CCD向けプローブカード
Tester
:
Customized Tester
Configuration
:
1024 channels
Test Frequency
:
800MHz
Probe Area
:
100mm x 100mm
Pad Size(min)
:
38um-sq.
Tip Diameter
:
15um
Alignment(XY)
:
±10um
Planarity(Z)
:
<10um
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Delta
◆カンチレバー型と
垂直型を融合したプローブカード       
Tester
:
Advantest T6577
Configuration
:
928 pins / 8DUTs
Test Frequency
:
500MHz / 667 Mbps
Probe Area
:
100mm x 100mm
Pad Size(min)
:
30um-sq.
Tip Diameter
:
10um
Alignment(XY)
:
±10um
Planarity(Z)
:
<10um
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Gamma
◆コブラ型プローブカード
Tester
:
Verigy 93K
Configuration
:
7084pins
(opt.12000pins)
Test Frequency
:
1.5GHz
 (opt. 4.0GHz)
Temperature
:
up to 150degC
Pitch(min)
:
90um
Tip Diameter
:
65um~125um
Alignment(XY)
:
±20um
Planarity(Z)
:
<20um











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◆スプリング型プローブカード
幅広い製品群を取り扱っておりますので、仕様をお問い合わせください。

 

 

 

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