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STAr-KVD Mercury
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STAr Technologies社製アナログ・ミックスド・シグナル・テスターのMシリーズは少ピンデバイスのオペアンプ・LDOなどのリニア・パワーマネージメントICやADC、DAC、センサーなどをターゲットとしています。

用途に合わせて必要なモジュールを選択することによってテスターの構成をカスタマイズ可能なため、少ないコストで必要なシステムを構築できます。

高耐圧デバイスに対しては高電圧・大電流モジュールであるTaurusシリーズと組み合わせることにより、±1,000V、100Aパルスの測定も可能で、またファイナルテスト向けとしては最大32サイトまで対応しています。
テストヘッドはコンパクトに設計されているため、ハンドラやプローバーとの接続も容易です。

<製品特徴>
低価格
省スペース

<製品仕様>
アナログ:64ch
デジタル:64ch
最大電圧:±256V (0pt. ±1,000V)
最大電流:±10A (0pt. 100A Pulse)
同時測定数:32サイト

KVD M0
・測定推奨デバイス:Linear/PMIC
・測定DUT数:1-2
・推奨デバイスピン数:<8〜16
・アナログチャネル数:16+4
・デジタルチャネル数:16
・テストスロット数:8
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KVD M1
・測定推奨デバイス:Linear/PMIC
・測定DUT数:1-4
・推奨デバイスピン数:<32〜64
・アナログチャネル数:32+4
・デジタルチャネル数:32
・テストスロット数:9
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KVD M2
・測定推奨デバイス:PMIC/MXSL
・測定DUT数:1-32
・推奨デバイスピン数:>32
・アナログチャネル数:64(MAX192)
・デジタルチャネル数:64
・テストスロット数:13+8

 

 

 

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