STAr Technologies社製アナログ・ミックスド・シグナル・テスターのMシリーズは少ピンデバイスのオペアンプ・LDOなどのリニア・パワーマネージメントICやADC、DAC、センサーなどをターゲットとしています。
用途に合わせて必要なモジュールを選択することによってテスターの構成をカスタマイズ可能なため、少ないコストで必要なシステムを構築できます。
高耐圧デバイスに対しては高電圧・大電流モジュールであるTaurusシリーズと組み合わせることにより、±1,000V、100Aパルスの測定も可能で、またファイナルテスト向けとしては最大32サイトまで対応しています。
テストヘッドはコンパクトに設計されているため、ハンドラやプローバーとの接続も容易です。
●低価格
●省スペース
●アナログ:64ch
●デジタル:64ch
●最大電圧:±256V (0pt. ±1,000V)
●最大電流:±10A (0pt. 100A Pulse)
●同時測定数:32サイト
テストソリューション本部
TEL:045-474-8824